Der Funktionstest von Leiterplatten ist ein komplexer Prozess in dem fehlerhaftes Messequipment, Umwelteinflüsse und die Messmittelfähigkeit des Prüflings zu verschiedenen Fehlerbildern führen. Mit unserer Lösung wollen wir die Bediener solcher Tests unterstützen die Fehler der Leiterplatte selbst oder der Teststation zuzuordnen um die geeigneten Maßnahmen einzuleiten. Dazu wird ein Machine Learning Verfahren auf vergangenen Leiterplattentestdaten mit passenden Labeln (wie "Wiederholprüfung", "Teststationsfehler", "Leiterplattendefekt") trainiert und für die aktuelle Produktion als Service bereitegestellt.